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32nm CMOS工艺三点翻转自恢复锁存器设计
黄正峰1,潘尚杰1,曹剑飞1,宋钛1,欧阳一鸣2,梁华国3,倪天明4,鲁迎春3
1. 合肥工业大学电子科学与应用物理学院
2. 合肥工业大学 计算机与信息学院
3. 合肥工业大学
4. 安徽工程大学电气工程学院
Design of Triple-Node-Upset Self-Recovery Latch in 32nm CMOS Technology

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