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电子学报  2006, Vol. 34 Issue (11): 1986-1989    DOI:
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对表面势为基础的MOSFET片电荷模型的基本检验
何 进, 牛旭东, 张钢刚, 张 兴
1.北京大学信息科学技术学院微电子学系纳太器件和电路研究室,北京 100871; 2.北京大学深圳研究生院信息工程学院,广东深圳 518055
Benchmark Tests on Surface Potential Based Charge-Sheet Models
HE Jin, NIU Xu-dong, ZHANG Gang-gang, ZHANG Xing
1.Group of the Nano- & Tera- Devices and Circuits and MPW Center,Institute of Microelectronics,Peking University,Beijing 1000871,China; 2.Institute of Electronic Engnieering and Computer Sciences,Shenzhen Graduate School of Peking University,Shenzhen,Guangdong 518055,China

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