一种抗热载流子退化效应的新型CMOS电路结构

陈勇;杨谟华;于奇;王向展;李竟春;谢孟贤

电子学报 ›› 2000, Vol. 28 ›› Issue (5) : 65-67.

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一种抗热载流子退化效应的新型CMOS电路结构

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A New CMOS Circuit Structure for Hot-Carrier Resistance

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