利用场发射显微镜测算碳化钨薄膜的逸出功

孙建平;张兆祥;侯士敏;张耿民;赵兴钰;刘惟敏;薛增泉

电子学报 ›› 2002, Vol. 30 ›› Issue (5) : 655-657.

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利用场发射显微镜测算碳化钨薄膜的逸出功

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Work Function of Tungsten Carbide Thin Film Calculated Using Field Emission Microscopy

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