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电子学报  2006, Vol. 34 Issue (2): 282-286    DOI:
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基于测试向量中不确定位的漏电流优化技术
王 伟1, 韩银和2, 李晓维2, 张佑生1
1. 合肥工业大学计算机与信息学院,安徽合肥 230009;2. 中国科学院计算技术研究所先进测试技术实验室,北京 100080
Techniques of Leakage Current Optimization Based on Don’t Care Bits in Test Vectors
WANG Wei1, HAN Yin-he2, LI Xiao-wei2, ZHANG You-sheng1
1. School of Computer and Information,Hefei University of Technology,Hefei,Anhui 230009,China;2. Advanced Test Technology Laboratory,Institute of Computing Technology,Chinese Academy of Sciences,Beijing 100080,China

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