基于性能退化的电子产品筛选试验设计

钟强晖, 张志华, 李大伟

电子学报 ›› 2013, Vol. 41 ›› Issue (9) : 1788-1793.

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电子学报 ›› 2013, Vol. 41 ›› Issue (9) : 1788-1793. DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2013.09.019
学术论文

基于性能退化的电子产品筛选试验设计

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Screening Test Design for Electronics Based on Performance Degradation

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