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电子学报  2006, Vol. 34 Issue (2): 352-355    DOI:
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一种GaAs FET/pHEMT器件噪声参数测量的新方法
刘章文1,2, 蒋 毅1, 古天祥1
1. 电子科技大学自动化工程学院,四川成都 610054;2. 中国工程物理研究院应用电子学研究所,四川绵阳 621900
A New Noise Parameter Measurement Method for GaAs FET/pHEMT Devices
LIU Zhang-wen1,2, JIANG Yi1, GU Tian-xiang1
1. Institute of Automatic Engineering,University of Electronic Science and Technology of China,Chengdu,Sichuan 610054,China;2. Institute of Applied Electronics,CAEP,Mianyang,Sichuan 621900,China

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