电子学报
 首页  |  期刊介绍  |  编 委 会  |  投稿指南  |  期刊订阅  |  综合信息  |  联系我们  |  致谢审稿人 | CJE
电子学报  2017, Vol. 45 Issue (6): 1382-1388    DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2017.06.015
学术论文 最新目录| 下期目录| 过刊浏览| 高级检索 |
一种低功耗双重测试数据压缩方案
陈田1,2, 易鑫1,2, 王伟1,2, 刘军1,2, 梁华国1,3, 任福继2,4
1. 合肥工业大学计算机与信息学院, 安徽合肥 230009;
2. 合肥工业大学情感计算与先进智能机器安徽省重点实验室, 安徽合肥 230009;
3. 合肥工业大学电子科学与应用物理学院, 安徽合肥 230009;
4. 德岛大学, 日本德岛770-8506
Low Power Multistage Test Data Compression Scheme
CHEN Tian1,2, YI Xin1,2, WANG Wei1,2, LIU Jun1,2, LIANG Hua-guo1,3, REN Fu-ji2,4
1. School of Computer and Information, Hefei University of Technology, Hefei, Anhui 230009, China;
2. Anhui Province Key Laboratory of Affective Computing and Advanced Intelligent Machine, Hefei University of Technology, Hefei, Anhui 230009, China;
3. School of Electronic Science & Applied Physics, Hefei University of Technology, Hefei, Anhui 230009, China;
4. The University of Tokushima, Tokushima 770-8506, Japan

版权所有 © 2012 《电子学报》编辑部
本系统由北京玛格泰克科技发展有限公司设计开发 技术支持:support@magtech.com.cn
京ICP备12041980号-1