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电子学报  2016, Vol. 44 Issue (11): 2646-2652    DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2016.11.012
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CMOS反相器低频噪声模型及可靠性表征研究
陈晓娟1, 陈东阳2, 吴洁3
1. 长春理工大学电子信息工程学院, 吉林长春 130022;
2. 东北电力大学信息工程学院 吉林吉林 132012;
3. 北华大学电气信息工程学院 吉林吉林 132013
Investigation on Low-Frequency Noise Models and Representation for Reliability of CMOS Inverter
CHEN Xiao-juan1, CHEN Dong-yang2, WU Jie3
1. School of Electronic Information Engineering, Changchun University of Science and Technology, Changchun, Jilin 130022, China;
2. School of Information Engineering, Northeast Dianli University, Jilin, Jilin 132012, China;
3. School of Electrical Information Engineering, Beihua University, Jilin, Jilin 132013, China

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