%0 Journal Article %A 菅端端 %A 钟明琛 %T 下一代光传输系统中超高速ADC芯片性能测试方法 %D 2018 %R 10.3969/j.issn.0372-2112.2018.09.029 %J 电子学报 %P 2251-2255 %V 46 %N 9 %X 针对下一代光传输系统对模数转换器(ADC)高采样率、大带宽的要求,提出一种针对该类ADC动态性能的测试方法.通过分析光传输系统中ADC芯片的特点,解决了采样时钟无法直接测量,输出数据难以捕获,分辨率不易统计,插损非线性导致带宽测量偏差等问题,并将该方法应用于光传输、雷达、卫星等高数据率场景所用超高速ADC芯片的评测中.测试结果表明,该方法解决了最高采样率70GSPS带宽16GHz的超高速ADC测试的关键问题,基本满足下一代400Gbps光传输系统对ADC动态性能测试的要求. %U https://www.ejournal.org.cn/CN/10.3969/j.issn.0372-2112.2018.09.029