| 2006, Vol. 34(11): 1986-1989 DOI: | ||
| 对表面势为基础的MOSFET片电荷模型的基本检验 | ||
| 何 进, 牛旭东, 张钢刚, 张 兴 | ||
| 1.北京大学信息科学技术学院微电子学系纳太器件和电路研究室,北京 100871; 2.北京大学深圳研究生院信息工程学院,广东深圳 518055 | ||
| 收稿日期 2005-11-25 修回日期 2006-06-19 | ||
| Supporting info | ||
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创刊日期：1962年创刊（月刊）
主办单位：中国电子学会 ISSN 0372-2112 CN 11-2087/TN
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