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2005, Vol. 33(11): 2056-2058 DOI:
应变Si调制掺杂NMOSFET电子面密度模型
胡辉勇, 张鹤鸣, 戴显英, 王顺祥, 朱永刚, 区健锋, 俞智刚, 马何平, 王喜媛
西安电子科技大学微电子学院,宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室,陕西西安 710071
收稿日期
2004-12-14
修回日期
2005-03-14
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