基于LSTM-DHMM的MOSFET器件健康状态识别与故障时间预测

张明宇, 王琦, 于洋

电子学报 ›› 2022, Vol. 50 ›› Issue (3) : 643-651.

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电子学报 ›› 2022, Vol. 50 ›› Issue (3) : 643-651. DOI: 10.12263/DZXB.20210047
学术论文

基于LSTM-DHMM的MOSFET器件健康状态识别与故障时间预测

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Health Status Identification and Fault Time Prediction of MOSFET Device Based on LSTM-DHMM

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