Optimization of BGA Solder Joint Structure Based on Stress Analysis of Random Vibration

YANG Xue-xia, SUN Qin-run, WANG Chao, PENG Yin-fei, ZHANG Wei-wei

ACTA ELECTRONICA SINICA ›› 2023, Vol. 51 ›› Issue (10) : 2783-2790.

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ACTA ELECTRONICA SINICA ›› 2023, Vol. 51 ›› Issue (10) : 2783-2790. DOI: 10.12263/DZXB.20220390
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Optimization of BGA Solder Joint Structure Based on Stress Analysis of Random Vibration

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Abstract

A board-level BGA (Ball Grid Array) solder joint finite element model is established. The chip height, solder joint diameter, solder joint height, and solder joint spacing are selected as design variables, and the critical solder joint stress is used as the response target. We design 25 groups of solder joint models simulating and calculating based on the Taguchi orthogonal and the surface response method The structural parameters of the solder joints are optimized through mathematical statistical and regression analysis. And the optimal solder structural combination with the minimum joint stress is obtained. The results show that the result of surface response optimization is better than the Taguchi orthogonal under the same conditions. And the best combination of solder joints is solder joint diameter 0.32 mm, solder joint height 0.20 mm, solder joint spacing 0.36 mm. The equivalent stress value of the best combination is 0.391 5 MPa, which is reduced by 0.65 MPa. They show that the optimization of the structural parameters of BGA solder joints is achieved.

Key words

BGA solder joint / taguchi orthogonal / surface response / finite element

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YANG Xue-xia , SUN Qin-run , WANG Chao , PENG Yin-fei , ZHANG Wei-wei. Optimization of BGA Solder Joint Structure Based on Stress Analysis of Random Vibration[J]. ACTA ELECTONICA SINICA, 2023, 51(10): 2783-2790. https://doi.org/10.12263/DZXB.20220390

1 前言

电子封装作为国家未来发展战略产业集成电路的关键部分,因高可靠性成为研究热点.球栅阵列封装
(Ball Grid Array,BGA)因适用广、良品率高、电性能及散热性能好等优势成为主流封装技术1.BGA封装器件焊点具有电气互联、机械支撑与散热作用,但其却是电脑、手机、iPad、车规级芯片等产品在运输和负载过程中易发生振动变形,承受较高机械应力而破坏的位置23.
因此,对器件焊点在随机振动过程应力情况难以测量,不方便显明快速找到薄弱位置4,有效降低焊点应力并确保焊点服役可靠性的方法研究应给予足够重视5.近年来,许多研究学者借助有限元仿真及优化方法来进行分析.Samavatian等人6通过有限元仿真将器件应力分布及危险位置清楚呈现.Sun等人7结合有限元及田口正交优化研究了小间距焊点几何结构对应力的影响,发现较高焊球能提升焊点热可靠性.王建培等人8结合有限元及曲面优化研究了微尺度BGA焊点形态对焊点应力应变的影响,显著降低了焊点所承受应力值.
众多学者研究表明,焊点几何结构对焊点应力值影响显著,但同种载荷下运用有限元仿真联合田口正交及曲面响应分析两种优化方法的优劣,在一定范围内响应目标与因素间数量的关系仍需研究.因此,本文研究了BGA焊点在随机振动下的可靠性,运用有限元得到焊点应力分布,通过田口正交及曲面响应两种优化方法研究焊点结构对等效应力的影响,并建立了显著因子与等效应力间的非线性预测关系,为优化提高焊点可靠性提供了一定参考.

2 BGA焊点可靠性有限元模拟

2.1 三维有限元模型及载荷施加

本文选仙童半导体公司的FAN48632UC33X FBGA产品作为分析对象,为避免对称模型丢失模态而建立板级BGA整体模型,3D BGA封装样式见图1.模型组成PCB板、SAC305焊点、Si芯片三部分,具体尺寸:PCB板40 mm × 40 mm × 1.8 mm,焊点径向0.25 mm,焊点高度0.24 mm,焊点间距0.4 mm,焊点阵列5×5,Si芯片2.5 mm × 2.5 mm × 0.4 mm,各FBGA封装之间横纵向距离为5 mm.以上部分材料属性见表1.BGA焊点用Multizone尺寸分区控制方法划分,其他部分用四面体网格自由划分,网格数据统计质量0.859 33,单元数量340 916,节点数863 546.
图1 3D BGA封装样式

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表1 FBGA模型材料属性及尺寸
材料 弹性模量E/GPa 泊松比μ 密度ρ/(kg∙m-3)
Si芯片 131 0.30 2 320
SAC305 38 0.35 7 300
PCB板 18.2 0.25 1 200
板级BGA封装采用基于美军标MIL-ATDNAVMAT P9492的PSD加速度功率谱曲线,见图2.随机振动频率在20~80 Hz时,其振动量值为+3 dB/oct;随机振动频率在80~350 Hz时,加速度功率谱密度水平幅值为0.04 g2/Hz;随机振动频率在350~2 000 Hz时,其振动量值为-3 dB/oct,其方向为沿螺栓孔面垂直于PCB板的Z轴.
图2 PSD功率谱密度

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2.2 随机振动结果分析

运用ANSYS软件进行BGA焊点的随机振动有限元分析,建好仿真模型,施加相应材料参数后,首先对模型进行了模态分析,边界条件为在PCB板底面4个角点施加固定约束,然后再进行了PSD谱分析,得到3D的BGA全结构焊点等效应力云图分布情况,见图3.焊点等效应力值呈现四角处的焊点较高,位于中心部位的焊点等效应力较低,并且值由中心向边缘焊点逐渐增加的分布情况.最大等效应力位于距离芯片封装中心最远的焊点靠近PCB板界面处,值为1.038 5 MPa.因此定该角焊点为随机振动载荷下的关键焊点,随机振动所致焊点变形使四角位置比中心位置大,然后因疲劳而产生的裂纹率先在该焊点处产生,最终导致整个BGA器件失效,这与学者韩立帅9研究的结果相一致.
图3 全结构焊点等效应力分布

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3 田口正交BGA焊点结构参数优化

3.1 田口试验方案设计

作为一种革命性可靠性优化方法,正交试验法具有简单均布性、准确可靠性的特点10.本节选取板级BAG封装的芯片高度、焊点直径、焊点高度、焊点间距四个结构参数,并且每因素取五水平,其因素水平表见表2.依据田口正交表得到25组参数水平组合,将等效应力作为评价焊点可靠性的优化指标,并进行了相应模拟,详见表3.
表2 控制因素及水平因子

因素

名称

芯片高度/mm 焊点直径/mm 焊点高度/mm 焊点间距/mm
A B C D
水平1 0.390 0.28 0.190 0.36
水平2 0.395 0.29 0.195 0.37
水平3 0.400 0.30 0.200 0.38
水平4 0.405 0.31 0.205 0.39
水平5 0.410 0.32 0.210 0.40
表3 正交实验方案及信噪比响应
试验 A/mm B/mm C/mm D/mm σ/MPa 信噪比D S/N/dB
1 1 1 1 1 0.644 4 3.816 9
2 1 2 2 2 0.616 1 4.206 9
3 1 3 3 3 0.625 6 4.074 1
4 1 4 4 4 0.617 8 4.183 1
5 1 5 5 5 0.597 7 4.470 3
6 2 1 2 3 0.568 7 4.902 3
7 2 2 3 4 0.570 4 4.876 4
8 2 3 4 5 0.521 4 5.656 5
9 2 4 5 1 0.462 3 6.701 5
10 2 5 1 2 0.591 9 4.555 1
11 3 1 3 5 0.595 4 4.503 8
12 3 2 4 1 0.565 2 4.955 9
13 3 3 5 2 0.625 7 4.072 7
14 3 4 1 3 0.657 8 3.638 1
15 3 5 2 4 0.626 3 4.064 4
16 4 1 4 2 0.565 5 4.951 3
17 4 2 5 3 0.580 2 4.728 4
18 4 3 1 4 0.605 1 4.363 5
19 4 4 2 5 0.584 2 4.668 8
20 4 5 3 1 0.574 9 4.808 2
21 5 1 5 4 0.505 4 5.927 3
22 5 2 1 5 0.582 2 4.698 6
23 5 3 2 1 0.512 3 5.809 5
24 5 4 3 2 0.608 9 4.309 1
25 5 5 4 3 0.723 6 2.810 1
均值 4.630 1
K 1 4.150 3 4.820 3 4.214 4 5.218 4

因素主次:A>D>C>B

优化设计:A2B1C5D1

K 2 5.338 4 4.693 2 4.730 4 4.419 1
K 3 4.246 9 4.795 3 4.514 3 4.030 6
K 4 4.704 1 4.700 1 4.511 4 4.682 9
K 5 4.710 9 4.141 6 5.180 1 4.799 6
R 1.188 1 0.678 7 0.965 7 1.187 8

3.2 数理优化分析

利用正交表进行合理的试验计划后,将损失函数推出的信噪比定量引入优化进程,判断各因素对目标函数影响程度11.其原指播音设备功放,描述为
DS/N=-10lg1ni=1nyi2
(1)
其中, DS/N(Signal/Noise)指信号与噪声的比值,该值越大性能越好; yi指质量目标等效应力.
有限元模拟得到焊点应力值和信噪比值在表3中体现,将信噪比均值效应直观显现,见图4.
图4 信噪比均值效应

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表3中,K 1指的是焊点几何结构该因素在1水平条件下,等效应力所对应信噪比的累加和,其他类似.极差R指的是K 1K 2K 3中两极值差,数值越大表示对优化目标越有影响.进行了极差分析之后,发现板级FBGA焊点随机振动可靠性影响先后排名:芯片高度(因素A)>焊点间距(因素D)>焊点高度(因素C)>焊点直径(因素B).经表3图4得到优化参数组合为A2B1C5D1,即芯片高度0.395 mm,焊点直径0.28 mm,焊点高度0.21 mm,焊点间距0.36 mm.
由极差分析选出优化组合以及重要因素的排序后,对于各结构因素对FBGA焊点的等效应力所产生的影响是否显著,我们进行方差分析研究,由此更加具有针对性地控制显著性因素,以便FBGA焊点的等效应力降低,具体见表4.
表4 因素显著性水平
因素 A B C D
偏差平方和/mm 0.019 0.007 0.011 0.018
自由度/mm 4 4 4 4
F比/m 9.5 3.5 5.5 9.0
贡献率/% 34.55 12.73 19.99 32.73
显著性 显著 不显著 不显著 显著
表4中,在置信水平为95%时,这时对应的临界值F 0.05为6.39,因此当显著性水平 α=0.05,有芯片高度和焊点间距的F比值均大于6.39,则其对等效应力显著,此结果与极差分析相互印证.可以根据显著性结果有针对性地为FBGA焊点相关结构参数设计提供依据,更有效地设计出可靠性最好的产品.
由于随机振动作用下因素A和D的占比达67.82%,因此接下来研究了显著性因素间交互作用对信噪比的影响,详见图5.由图看出,芯片高度为 0.395 mm时的总信噪比水平最高,在焊点间距0.39 mm不变时,信噪比随芯片高度增加而增大.
图5 BGA芯片高度、焊点间距因素交互

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基于以上极差和方差分析得到的板级FBGA焊点随机振动结构优化结果:A2B1C5D1(芯片高度 0.395 mm,焊点直径 0.28 mm,焊点高度 0.21 mm,焊点间距 0.36 mm),通过有限元验证分析其是否达到优化目的,详见图6.由图6可知,等效应力值降低到了 0.420 1 MPa,较原始设计 1.038 5 MPa降低了59.55%,优化结果均比表3中任一组都要低,实现了优化目标.
图6 优化组合焊点等效应力云图

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4 曲面响应BGA焊点结构参数优化

4.1 曲面响应试验设计方案

为寻找更好优化方案,本文还选用了Box和Wilson提出曲面响应法的Box-Behnken法,即BBD试验方案,可减少试验次数.其响应面优化详细步骤见图7.
图7 曲面响应优化流程图

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与田口各因素的研究范围一致,本节仍选取芯片高度、焊点直径、焊点高度、焊点直径四个因素,表2中各因素的水平1,3,5.根据BBD设计方案得到的25组试验模型及焊点等效应力结果见表5.
表5 BBD试验方案及等效应力结果
试验 A/mm B/mm C/mm D/mm σ/MPa
1 3 3 3 3 0.471 9
2 1 1 3 3 0.576 1
3 5 1 3 3 0.552 1
4 1 5 3 3 0.460 6
5 5 5 3 3 0.443 5
6 3 3 1 1 0.420 7
7 3 3 5 1 0.452 2
8 3 3 1 5 0.577 5
9 3 3 5 5 0.578 5
10 1 3 3 1 0.412 6
11 5 3 3 1 0.427 2
12 1 3 3 5 0.586 1
13 5 3 3 5 0.554 8
14 3 1 1 3 0.591 6
15 3 5 1 3 0.471 9
16 3 1 5 3 0.544 6
17 3 5 5 3 0.443 6
18 1 3 1 3 0.527 9
19 5 3 1 3 0.544 5
20 1 3 5 3 0.489 6
21 5 3 5 3 0.498 6
22 3 1 3 1 0.496 8
23 3 5 3 1 0.399 5
24 3 1 3 5 0.630 8
25 3 5 3 5 0.546 4

4.2 回归拟合分析

基于表5进行数据分析并二次多元回归拟合后,将芯片高度(x 1)、焊点直径(x 2)、焊点高度(x 3)、焊点间距(x 4)定义为拟合回归方程的4个自变量,将板级FBGA最大等效应力值(y)作为因变量,得初次回归方程如下:
y=20.7-16.9x1-49.4x2-80.1x3-8.3x4+35.3x12+58.9x22+225.7x32+35.6x42+4.3x1x2-9.5x1x3-28.7x1x4+23.5x2x3+13.2x2x4-38x3x4
(2)
另外,可以通过方差分析来确定回归方程的因素显著性验证及拟合程度的好坏,方差显著性分析见表6,回归方程拟合程度具体指标见表7.
表6 筛选前方差显著性分析
来源 自由度 Adj SS Adj MS F P
模型 4 0.103 93 0.007 42 25.67 0.000 67
芯片高度 1 0.000 09 0.000 09 0.30 0.596 25
焊点直径 1 0.033 60 0.033 60 116.17 0.000 35
焊点高度 1 0.001 35 0.001 35 4.65 0.000 52
焊点间距 1 0.063 58 0.063 58 219.83 0.000 21
表7 筛选前回归方程分析
FitStatistics(统计数据)
R-Square(回归方程系数) 96.77%
Adj. R-Square(回归方程调整系数) 93.00%
Pre. R-Square(回归方程预测系数) 81.39%
FitStatus(拟合情况) Succeeded
P值小于0.05时,是较强的判定结果说明因子显著,则拒绝原先假设各因子的影响.由上表可知模型显著,但芯片高度的P值为0.596 25(>0.000 1)并不显著,这与田口正交的分析不一致,其原因主要与其缺乏数学模型,从而仅用方差贡献率代替了上述分析中的P值有关.初次回归方程系数R-Square、调整系数Adj R-Square和预测系数Pre. R-Square( 0.967 7 0.930 0 0.813 9)较高,有较好拟合度但并不足够好.
因此对其剔除不显著因子及交互项因子后,进行二次回归方程拟合,以期望达到更好的拟合程度,从而更准确地预测其目标行为.更新后,再次得到回归方程如下:
y=14.94-30.9x2-72.5x3-14.5x4+47.1x22+178.6x32+23.9x42
(3)
筛选后方差显著性分析见表8,筛选后的回归方程拟合程度具体指标见表9.
表8 筛选后方差显著性分析
来源 自由度 Adj SS Adj MS F P
模型 3 0.101 799 0.016 966 60.56 0.000 2
焊点直径 1 0.033 602 0.033 602 119.93 0.000 7
焊点高度 1 0.001 345 0.001 345 4.80 0.000 4
焊点间距 1 0.063 583 0.063 583 226.93 0.000 3
表9 筛选后回归方程分析
FitStatistics(统计数据)
R-Square(回归方程系数) 98.78%
Adj. R-Square(回归方程调整系数) 93.22%
Pre. R-Square(回归方程预测系数) 90.21%
FitStatus(拟合情况) Succeeded
表8可知,因子的P值均小于0.05,说明此时因子均显著,且回归方程系数R-Square、调整系数Adj R-Square和预测系数Pre. R-Square( 0.987 8 0.932 2 0.902 1)均比之前高.做方差分析之前先假设了各因子对等效应力的优化目标有影响的概率很低,即样本事件的发生概率小,由P值<0.05可知,我们拒绝了原假设(响应目标与各因子无关),且样本发生的概率及显著性水平很高.为此绘制了在置信水平95%, α=0.05下,确定因子显著水平的标准化效应Pareto图和正态图,分别见图8图9.
图8 标准化效应Pareto图

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图9 标准化效应正态图

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标准化效应的Pareto图可确定效应的量值和重要性.在图8中可以看出在标准化效应超过2.09时,因子项在 α=0.05下是显著的.但Pareto图显示的是效应的绝对值,无法确定增大或者减小等效应力响应的因子,因此进一步可用标准化正态图确定.
标准化效应正态图可确定效应的量值、方向和重要性.图9中可看出,离0较远的因子效应在统计意义上显著,且影响权重焊点间距>焊点高度>焊点直径,这与田口正交极差分析结果一致;因子焊点直径和焊点高度对等效应力是负效应,因子焊点间距对应力响应是正效应.
为了进一步确定筛选后的函数拟合值与观测值的差值及异常情况,我们也进行了标准化残差的计算,见图10.标准化残差通过将不同方差转换为通用简单的尺度来解决问题,大于2和小于-2的标准化残差通常被视为异常观测值.通过正态概率图、拟合值、直方图、顺序关系的描述可以看出,所选择的实验点大都落在标准化残差-2至2间,这说明筛选后拟合的二次回归方程与试验结果较为贴切,达到了拟合预测的要求,能够做出比较正确且规范的预测.
图10 拟合函数诊断标准化残差图

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综上所述,本节根据曲面响应试验设计流程的实验结果进行了响应目标与焊点结构参数之间的二次回归拟合,并剔除了非显著性因素后,将筛选前后的拟合二次回归方程对比,并对筛选后拟合的二次回归方程标准化效应图以及标准化残差图的绘制分析,这增加了拟合回归方程的准确性,以及预测结果的可靠性,便于为后续的优化算法奠定数据基础.

4.3 遗传算法优化

遗传算法(Genetic Algorithm)是1975年由Holland教授提出的一种群搜索技术及生物进化思想结合的搜索进化方法12.将得到的筛选后二次多项式回归方程式中等效应力最低的参数作为优化目标,进行焊点几何结构参数优化,根据响应表设置的约束条件如下: 0.28x20.32 0.19x30.21 0.36x40.40 x2为焊点直径, x3为焊点高度, x4为焊点间距),个体变量数为3,种群个体数50,变异0.1,代沟0.9,迭代次数为143次,迭代143次后适应度函数种群最优解及均值变化见图11.
图11 适应度函数种群最优解及均值变化

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由上可知新种群适应度函数经过迭代逐渐收敛,当结果保持稳定时停止计算并将最优解个体组合进行输出,有 x2=0.32 x3=0.20 x4=0.36 y=0.3949,适应度值比表5中的应力最小值0.399 5少了 5×10-3 MPa.
但其预测得是否准确仍需进行仿真验证,在其他条件一致时,将焊点直径0.32 mm,焊点高度0.20 mm,焊点间距0.36 mm重新建模,进行随机振动过程的有限元分析后,得到的焊点阵列等效应力分布图见图12.可知,板级FBGA焊点随机振动过程中焊点最大等效应力值为0.391 5 MPa,与遗传算法优化的预测值0.394 9 MPa相比,预测误差比例仅为0.946%;与25组曲面响应的试验设计组合最低等效应力0.399 5 MPa相比,减小了2.35%.由此验证了该优化组合的准确性及预测板级FBGA最优几何结构参数水平组合的有效性.
图12 最优水平组合板级FBGA焊点等效应力图

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综上,曲面响应优化方案验证结果0.391 5 MPa比田口正交优化方案验证结果0.420 1 MPa要好,说明曲面响应优化方案在得到数学模型等一系列数理统计分析筛选的缜密流程,加上遗传算法的迭代优化,一定程度上提高了“最优解”的精度,从而具有一定实用价值.

5 结论

本文通过建立三维BGA焊点仿真模型对BGA焊点随机振动加载下的等效应力分析,并结合田口正交及曲面响应两种优化方法,对无铅焊点SAC305进行了可靠性分析及焊点结构优化后,得出以下结论:
(1)随机振动条件下,板级BGA关键焊点位于中间封装的边角焊点处.
(2)田口正交优化组合为A2B1C5D1(芯片高度0.395 mm,焊点直径0.28 mm,焊点高度0.21 mm,焊点间距0.36 mm)等效应力值降低到了0.420 1 MPa,较原始设计1.038 5 MPa降低了59.55%,实现了优化目的.
(3)曲面响应优化组合为焊点直径0.32 mm,焊点高度0.20 mm,焊点间距0.36 mm,等效应力值为0.391 5 MPa,仿真证实在同等运行条件下该结果要比田口正交优化结果好,且也实现了焊点结构参数的优化.

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Funding

National Natural Science Foundation of China(11602157)
Shanxi Provincial Natural Science Foundation(20210302123220)
Supported Project by the Key Laboratory of Robotics and Intelligent Equipment in Guangdong Province's Ordinary Universities(2017KSYS009)
Supported by the Robot and Intelligent Equipment Innovation Center of Dongguan Institute of Technology(KCYCXPT2017006)
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