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线性余因子差分亚阈电压峰技术测量电应力诱生MOSFET界面陷阱的研究
线性余因子差分亚阈电压峰技术测量电应力诱生MOSFET界面陷阱的研究
Study on Extraction of Stress-Induced Interface Traps in MOSFETs by Linear Cofactor Differernce Subthreshold Voltage Peak Technique
- 电子学报 2002年30卷第8期 页码：1108-1110
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