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NMOSFET器件不同源、不同γ剂量率辐射损伤比较
NMOSFET器件不同源、不同γ剂量率辐射损伤比较
A Comparison of Ionizing Radiation Damage in NMOSFET Device from Different Radiation Resources and Different Dose Rate 60Co Gamma Rays
- 电子学报 2002年30卷第8期 页码：1229-1231
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