您当前的位置:
首页 >
文章列表页 >
真实缺陷的矩形模型及其关键面积计算
论文 | 更新时间:2025-07-16
    • 真实缺陷的矩形模型及其关键面积计算

    • Rectangular Defect Model and Critical Area Computation of Real Defect Outlines in VLSI

    • 王俊平 ,郝 跃
    • 电子学报 2006年34卷第11期 页码:1974-1977

    移动端阅览

  •  
  •  
  • HTML全文

  • 参考文献

  • 出版信息

  • 数据统计

论文导航
icon
试读结束,您可以激活您的VIP账号继续阅读。
去激活 >
icon
试读结束,您可以通过登录账户,到个人中心,购买VIP会员阅读全文。
已是VIP会员?
去登录 >

63

浏览量

1302

下载量

1

CSCD

文章被引用时,请邮件提醒。
提交
工具集
  • BibTeX下载
  • Endnote下载
  • RefMan 下载
  • NoteExpress下载
  • NoteFirst下载

相关文章

基于IC互连线开路故障的Y/R模型
基于制造成品率模型的集成电路早期可靠性估计
基于离散模型的IC可靠性与成品率关系
基于缺陷均匀分布的集成电路制造成品率与可靠性之间的关系模型
以最高成品率为目标的MMIC CAD

相关作者

马佩军
郝 跃
赵天绪
郝跃
段旭朝
赵天绪
赵天绪
马佩军

相关机构

宝鸡文理学院数学系陕西宝鸡
西安电子科技大学微电子所陕西西安
宝鸡文理学院数学系
西安电子科技大学微电子所
西安电子科技大学微电子所陕西西安