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高速ADC微分相位、微分增益的测试
高速ADC微分相位、微分增益的测试
Differential Phase and Differential Gain Testing of Analog-to-Ditital Converters ( 1.University of Electronics Science ＆ Technology,Chengdu,Sichuan 610054,China;
- 电子学报 2003年31卷第12期 页码：1897-1899
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相关作者
彭宇恒
陈松岩
陈维友
赵铁民
刘式墉
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吉林大学电子工程系
集成光电子学国家重点联合实验室吉林大学实验区
吉林大学电子工程系集成光电子学国家重点联合实验室吉林大学实验区
