基于测试向量中不确定位的漏电流优化技术

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基于测试向量中不确定位的漏电流优化技术

论文 | 更新时间：2025-07-16

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- 基于测试向量中不确定位的漏电流优化技术
- Techniques of Leakage Current Optimization Based on Don’t Care Bits in Test Vectors
- 王伟，韩银和，李晓维，张佑生
- 电子学报 2006年34卷第2期页码：282-286
- 作者机构：
  1. 合肥工业大学计算机与信息学院,安徽,合肥,230009
  2. 中国科学院计算技术研究所先进测试技术实验室,北京,100080
  3. 合肥工业大学计算机与信息学院安徽合肥,230009
  4. 中国科学院计算技术研究所先进测试技术实验室北京,100080
- 作者简介：
- 基金信息：
  国家自然科学基金 (No.90207002);国家903重点基础研究发展计划 (No.2005CB321604);北京市重点科技项目 (No.HO20120120130);中科院计算所基金 (No.20056330,20056600-16)
- DOI：
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