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基于LSTM-DHMM的MOSFET器件健康状态识别与故障时间预测
学术论文 | 更新时间:2025-12-11
    • 基于LSTM-DHMM的MOSFET器件健康状态识别与故障时间预测

    • Health Status Identification and Fault Time Prediction of MOSFET Device Based on LSTM-DHMM

    • 张明宇 ,王琦 ,于洋
    • 电子学报 2022年50卷第3期 页码:643-651
    • DOI: 10.12263/DZXB.20210047     

      中图分类号:
    • 修回:2021-06-26 ,

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