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一种适用于氮化镓半桥结构的高可靠性差分电流补偿电平移位电路
学术论文 | 更新时间：2025-12-08
一种适用于氮化镓半桥结构的高可靠性差分电流补偿电平移位电路
A High-Reliability Differential Current Compensation Level Shift Circuit for GaN Half-Bridge
- 电子学报 2022年50卷第11期 页码：2561-2567
DOI： 10.12263/DZXB.20210827
修回：2021-09-27
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相关作者
赵鹏
姜梅
郭宝增
孙荣霞
UMBERTO Ravaioli
相关机构
深圳大学电子与信息工程学院
河北大学电子信息工程学院
Beckman Institute,University of Illinois at Urbana-Champaign,405 North Mathews Urbana
河北大学电子信息工程学院河北保定
Beckman InstituteUniversity of Illinois at Urbana-Champaign405 North Mathews UrbanaIL USA
