您当前的位置:
首页 >
文章列表页 >
基于粗细量化并行与TDC混合的CMOS图像传感器列级ADC设计方法
基于粗细量化并行与TDC混合的CMOS图像传感器列级ADC设计方法
Column Level ADC Design Method of CMOS Image Sensor Based on Coarse and Fine Quantization Parallel and TDC Hybrid
- 电子学报 2024年52卷第2期 页码:486-499
DOI: 10.12263/DZXB.20220744
修回:2023-01-18
移动端阅览
HTML全文
图( 21 ) 表( 1 )
参考文献
出版信息
数据统计
73
浏览量
137
下载量
3
CSCD
文章被引用时,请邮件提醒。
提交
工具集
- BibTeX下载
- Endnote下载
- RefMan 下载
- NoteExpress下载
- NoteFirst下载
相关文章
面向亿级CMOS图像传感器的高速全并行两步式ADC设计方法
基于负电容电路的高速列总线读出方法
基于电荷补偿型的高SNR模拟域TDI图像传感器
面向多类型二值分割任务的混合专家自适应统一框架
基于稀疏贝叶斯学习的OTFS系统脉冲噪声抑制方法
相关作者
许睿明
程新齐
苏昌勖
余宁梅
刘绥阳
郭仲杰
许睿明
许睿明
相关机构
西安理工大学自动化与信息工程学院
西安理工大学自动化与信息工程学院

