您当前的位置:
首页 >
文章列表页 >
高可靠性InGaZnO薄膜晶体管集成栅极驱动电路的研究
高可靠性InGaZnO薄膜晶体管集成栅极驱动电路的研究
Study of Highly Reliable Gate Driver on Array Based on InGaZnO Thin Film Transistor
- 电子学报 2022年50卷第12期 页码:3014-3020
DOI: 10.12263/DZXB.20220916
修回:2022-11-13
移动端阅览
HTML全文
图( 10 ) 表( 0 )
参考文献
出版信息
数据统计
122
浏览量
119
下载量
2
CSCD
文章被引用时,请邮件提醒。
提交
工具集
- BibTeX下载
- Endnote下载
- RefMan 下载
- NoteExpress下载
- NoteFirst下载
相关文章
高可靠性InGaZnO薄膜晶体管集成栅极驱动电路的研究
基于IGZO薄膜晶体管的高可靠性时分驱动GOA电路
基于双层联邦学习的高动态车联网业务边缘协作计算机制
基于慢波微同轴的紧凑型开关线式真时延单元
基于DD域LFM脉冲信号嵌入的OTFS通感一体化波形设计
相关作者
王保平
徐思雅
郭佳惠
郭术明
金兴成
于佳杰
赵天绪
郝 跃
相关机构
北京邮电大学网络与交换技术全国重点实验室
复旦大学微电子学院
华润微电子有限公司
宝鸡文理学院数学系陕西宝鸡
西安电子科技大学微电子所

