您当前的位置:
首页 >
文章列表页 >
1 500 V超结功率MOS器件优化与电容特性研究
学术论文 | 更新时间:2025-12-24
    • 1 500 V超结功率MOS器件优化与电容特性研究

    • Optimization and Capacitance Characteristics of 1 500 V Super Junction Power MOS Devices

    • 种一宁 ,李珏 ,乔明
    • 电子学报 2024年52卷第7期 页码:2271-2278
    • DOI: 10.12263/DZXB.20230845     

      中图分类号:
    • 修回:2023-11-25 ,

    移动端阅览

  •  
  •  
  • HTML全文

  • 图( 20 ) 表( 2 )

  • 参考文献

  • 出版信息

  • 数据统计

论文导航
icon
试读结束,您可以激活您的VIP账号继续阅读。
去激活 >
icon
试读结束,您可以通过登录账户,到个人中心,购买VIP会员阅读全文。
已是VIP会员?
去登录 >

73

浏览量

130

下载量

0

CSCD

文章被引用时,请邮件提醒。
提交
工具集
  • BibTeX下载
  • Endnote下载
  • RefMan 下载
  • NoteExpress下载
  • NoteFirst下载

相关文章

具有L型栅极场板的双槽双栅绝缘体上硅器件新结构
超低导通电阻沟槽栅LDMOS器件研究
低气压介质阻挡放电击穿特性的研究
一种快速的三维VLSI互连电容提取方法:虚拟多介质方法
基于DD域LFM脉冲信号嵌入的OTFS通感一体化波形设计

相关作者

种一宁
李珏
乔明
代红丽
赵红东
王洛欣
石艳梅
李明吉

相关机构

电子科技大学电子薄膜与集成器件全国重点实验室
电子科技大学广东电子信息工程研究院
电子科技大学(深圳)高等研究院
河北工业大学电子信息工程学院
天津理工大学电气电子工程学院