您当前的位置:
首页 >
文章列表页 >
基于预测兰姆波参考信号的缺陷概率成像
基于预测兰姆波参考信号的缺陷概率成像
Probability Imaging for Defects Using Predicted Lamb Wave Reference Signal
- 电子学报 2024年52卷第9期 页码:3262-3271
DOI: 10.12263/DZXB.20230878
修回:2024-06-03
移动端阅览
HTML全文
图( 32 ) 表( 2 )
参考文献
出版信息
数据统计
61
浏览量
111
下载量
1
CSCD
文章被引用时,请邮件提醒。
提交
工具集
- BibTeX下载
- Endnote下载
- RefMan 下载
- NoteExpress下载
- NoteFirst下载
相关文章
基于制造成品率模型的集成电路早期可靠性估计
超声导波信号形态分量分析方法研究
基于缺陷均匀分布的集成电路制造成品率与可靠性之间的关系模型
电子器件可靠性的噪声表征方法
CMOS反相器低频噪声模型及可靠性表征研究
相关作者
赵天绪
段旭朝
郝跃
李翔
李迅波
陈亮
赵天绪
段旭朝
相关机构
宝鸡文理学院计算信息研究所
西安电子科技大学微电子所
宝鸡文理学院计算信息研究所陕西宝鸡
西安电子科技大学微电子所陕西西安
电子科技大学机械电子工程学院

