基于双区域增强体-面积分方程的有损互连结构的低频分析

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基于双区域增强体-面积分方程的有损互连结构的低频分析

学术论文 | 更新时间：2025-10-16

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- 基于双区域增强体-面积分方程的有损互连结构的低频分析
- Low-Frequency Analysis of Lossy Interconnect Structures Based on Two-Region Augmented Volume-Surface Integral Equations
- 张黎，童美松
- 电子学报 2025年53卷第6期页码：1874-1884
- 作者机构：
  同济大学电子与信息工程学院，上海 201804
- 作者简介：
  张黎女.同济大学电磁场与微波技术专业博士研究生，慕尼黑工业大学国家公派联合培养博士研究生.于2021年获得国家留学基金委奖学金.主要研究方向为无芯片RFID标签、分形天线和计算电磁学. E-mail: 1910692@tongji.edu.cn
  童美松男.华中科技大学学士、硕士，美国亚利桑那州立大学博士，美国伊利诺伊大学香槟分校博士后.现任同济大学微电子学院副院长、特聘教授、长聘教授、博士生导师.主要研究方向为电磁场理论、天线理论与设计、微波电路设计、芯片电子封装、电磁逆散射与微波成像、多物理电磁学、计算电磁学等.E-mail: mstong@tongji.edu.cn
- 基金信息：
  国家自然科学基金(62071331);上海市科技委员会(21500714400)
- DOI： 10.12263/DZXB.20240834
  中图分类号：
- 修回：2025-03-10 ，
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