基于V93000的SoC中端口非测试复用的ADC和DAC IP核性能测试方案

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基于V93000的SoC中端口非测试复用的ADC和DAC IP核性能测试方案

学术论文 | 更新时间：2025-07-16

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- 基于V93000的SoC中端口非测试复用的ADC和DAC IP核性能测试方案
- Performance Parameter Testing for ADC and DAC IP Cores Without I/O Multiplexing in SoC Using Verigy 93000
- 裴颂伟，李兆麟，李圣龙，魏少军
- 电子学报 2013年41卷第7期页码：1358-1364
- 作者机构：
  1. 清华大学信息技术研究院,北京,100084
  2. 清华大学微电子研究所,北京,100084
  3. 清华大学信息技术研究院,北京,100084
  4. 清华大学微电子研究所,北京,100084
- 作者简介：
- 基金信息：
  中国博士后科学基金特别资助 (No.2012T50092);中国博士后科学基金面上资助 (No.2011M500321)
- DOI： 10.3969/j.issn.0372-2112.2013.07.018
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