接触电阻和扭距序列作用下CICC耦合损耗模型

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接触电阻和扭距序列作用下CICC耦合损耗模型

学术论文 | 更新时间：2025-07-16

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- 接触电阻和扭距序列作用下CICC耦合损耗模型
- Coupling Loss Model of CICC with Contact Resistance and Cabling Sequence
- 蒋华伟，李战升，武松涛
- 电子学报 2014年42卷第5期页码：953-957
- 作者机构：
  1. 河南工业大学信息科学与工程学院,河南,郑州,450001
  2. 河南省邮电规划设计院,河南,郑州,450008
  5. 中国科学院等离子体物理研究所,安徽,合肥,230031
- 作者简介：
- 基金信息：
  国家973重点基础研究发展计划 (No.2014GB105001);河南省教育厅科学技术研究重点项目 (No.14A510005)
- DOI： 10.3969/j.issn.0372-2112.2014.05.018
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