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基于TSV绑定的三维芯片测试优化策略
基于TSV绑定的三维芯片测试优化策略
Optimization Strategy for TSV-Based 3D SoC Testing
- 电子学报 2016年44卷第1期 页码：155-159
DOI： 10.3969/j.issn.0372-2112.2016.01.023
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