基于增长修剪型神经网络的半导体生产线动态瓶颈分析方法

您当前的位置：

首页 >

文章列表页 >

基于增长修剪型神经网络的半导体生产线动态瓶颈分析方法

学术论文 | 更新时间：2025-07-16

上一篇|下一篇

- 基于增长修剪型神经网络的半导体生产线动态瓶颈分析方法
- Dynamic Bottleneck Analysis for Semiconductor Wafer Fabrication System Based on Growing and Pruning Neural Networks
- 曹政才，邱明辉，刘民
- 电子学报 2016年44卷第7期页码：1636-1642
- 作者机构：
  1. 北京化工大学信息科学与技术学院,北京,100029
  2. 吉林大学符号计算与知识工程教育部重点实验室,吉林,长春,130012
  3. 清华大学自动化系,北京,100084
  4. 北京化工大学信息科学与技术学院,北京,100029
  5. 吉林大学符号计算与知识工程教育部重点实验室,吉林,长春,130012
  6. 清华大学自动化系,北京,100084
- 作者简介：
- 基金信息：
  国家自然科学基金 (No.51375038);高等学校博士学科点专项科研基金博导类课题 (No.20130010110009);复杂系统管理与控制国家重点实验室开放课题 (No.20120104);吉林大学符号计算与知识工程教育部重点实验室开放课题
- DOI： 10.3969/j.issn.0372-2112.2016.07.017
  中图分类号：
- 稿件说明：
移动端阅览
DOI：
DOI：

HTML全文
参考文献
出版信息
数据统计

摘要

Abstract

关键词

Keywords

references

273

浏览量

434

下载量

0

CSCD

文章被引用时，请邮件提醒。

提交

工具集

BibTeX下载
Endnote下载
RefMan 下载
NoteExpress下载
NoteFirst下载

关联资源

相关文章

应急场景无人机辅助实时视频传输联合优化策略

基于梯度优化的AFDM-ISAC波形高精度感知算法

基于非均匀随机相位映射的抗截获通信波形研究

基于RSMA的通信导航一体化信号波形设计

知识增强的区域关联图像解说生成方法

相关作者

暂无数据

相关机构

暂无数据