您当前的位置：
首页 >
文章列表页 >
CMOS反相器低频噪声模型及可靠性表征研究
CMOS反相器低频噪声模型及可靠性表征研究
Investigation on Low-Frequency Noise Models and Representation for Reliability of CMOS Inverter
- 电子学报 2016年44卷第11期 页码：2646-2652
DOI： 10.3969/j.issn.0372-2112.2016.11.012
移动端阅览
HTML全文
参考文献
出版信息
数据统计
204
浏览量
514
下载量
1
CSCD
文章被引用时，请邮件提醒。
提交
工具集
- BibTeX下载
- Endnote下载
- RefMan 下载
- NoteExpress下载
- NoteFirst下载
相关文章
基于缺陷均匀分布的集成电路制造成品率与可靠性之间的关系模型
电子器件可靠性的噪声表征方法
基于预测兰姆波参考信号的缺陷概率成像
基于双层联邦学习的高动态车联网业务边缘协作计算机制
基于IGZO薄膜晶体管的高可靠性时分驱动GOA电路
相关作者
赵天绪
段旭朝
庄奕琪
孙青
陈晓
戴杰
徐思雅
郭佳惠
相关机构
宝鸡文理学院计算与信息科学研究所
西安电子科技大学微电子所
南京信息工程大学江苏省大气环境与装备技术协同创新中心
南京信息工程大学电子与信息工程学院
北京邮电大学网络与交换技术全国重点实验室
