基于工艺参数扰动的IC参数成品率多目标优化算法

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基于工艺参数扰动的IC参数成品率多目标优化算法

学术论文 | 更新时间：2025-07-16

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- 基于工艺参数扰动的IC参数成品率多目标优化算法
- A Multi-objective Optimization Framework for Robust IC Parametric Yield Predication Under Process Variations
- 李鑫，孙晋，肖甫，田江山
- 电子学报 2016年44卷第12期页码：2960-2966
- 作者机构：
  1. 江苏省安全生产科学研究院科技研发中心,江苏,南京,210042
  2. 南京邮电大学江苏省无线传感网高技术研究重点实验室,江苏,南京,210013
  3. 南京理工大学计算机科学与工程学院,江苏,南京,210094
  4. 江苏省安全生产科学研究院科技研发中心,江苏,南京,210042
  5. 南京邮电大学江苏省无线传感网高技术研究重点实验室,江苏,南京,210013
  6. 南京理工大学计算机科学与工程学院,江苏,南京,210094
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI： 10.3969/j.issn.0372-2112.2016.12.021
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