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基于Copula理论的芯片多元参数成品率估算方法
基于Copula理论的芯片多元参数成品率估算方法
A Chip-Level Multi-parametric Yield Prediction Method Based on Copula Theory
- 电子学报 2017年45卷第9期 页码:2098-2105
DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2017.09.007
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