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一种集成电路测试流程分级动态调整方法
一种集成电路测试流程分级动态调整方法
Hierarchical Dynamic Adjustment Method for Integrated Circuit Testing Process
- 电子学报 2020年48卷第8期 页码:1623-1630
DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2020.08.022
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