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The Method of Defect Model Parameter Extraction for IC Functional Yield Estimation
更新时间：2025-07-02

    • The Method of Defect Model Parameter Extraction for IC Functional Yield Estimation

    • Acta Electronica Sinica   Vol. 28, Issue 8, Pages: 76-78(2000)

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  • The Method of Defect Model Parameter Extraction for IC Functional Yield Estimation[J]. Acta Electronica Sinica, 2000, 28(8): 76-78. DOI：

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