基于移频干扰的成像算法抗干扰性能分析

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基于移频干扰的成像算法抗干扰性能分析

更新时间：2025-07-08

- 基于移频干扰的成像算法抗干扰性能分析
- Acta Electronica Sinica Issue S1, Pages: 47-51(2011)
- 作者机构：
  
  1. 中国科学院电子学研究所
  2. 中船工业集团船舶系统工程部
  3. 北京印刷学院
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  CLC： TN957.52
- Published：2011
- 稿件说明：
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[J]. Acta Electronica Sinica, 2011, (S1): 47-51.
DOI：

[J]. Acta Electronica Sinica, 2011, (S1): 47-51. DOI：

摘要

本文针对RD和CS两种成像算法处理流程和方法的差异

分析了两种算法在移频干扰情况下的成像处理增益

并推导了两种算法的信干比处理增益公式.理论分析结果表明

在距离向采样率与SAR信号带宽相当的情况下

RD成像算法对移频干扰的抑制能力强于CS算法;在方位向过采样情况下

RD算法由于采用两维匹配处理从而获得比CS算法大的信干比处理增益

若对信号进行方位向滤波处理后

CS算法的对移频干扰的抗干扰能力与RD算法相当.最后

通过计算机仿真验证了本文的理论分析和结论.

Abstract

关键词

Keywords

references

张煜,杨绍全,董春曦,郑文秀.对线性调频雷达的正弦加权调频干扰技术[J].系统工程与电子技术,2007(04).

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