Non-Defect Technology of TFT-LCD

葛长军; 成建波; 周炜; 靳在渊

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Non-Defect Technology of TFT-LCD

更新时间：2025-12-08

- Non-Defect Technology of TFT-LCD
- Acta Electronica Sinica Issue 6, Pages: 54-57(1999)
- 作者机构：
  
  1.   电子科技大学光电子技术系!成都
  2.   610054
  3.   重庆光电技术研究所!重庆
  4.   400060
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  CLC： TN873
- Published：1999
- 稿件说明：
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[1]葛长军,成建波,周炜,靳在渊.薄膜晶体管矩阵液晶显示器的无缺陷技术[J].电子学报,1999(06):54-57.

葛长军, 成建波, 周炜, et al. Non-Defect Technology of TFT-LCD[J]. Acta Electronica Sinica, 1999, (6): 54-57.
[1]葛长军,成建波,周炜,靳在渊.薄膜晶体管矩阵液晶显示器的无缺陷技术[J].电子学报,1999(06):54-57. DOI：

葛长军, 成建波, 周炜, et al. Non-Defect Technology of TFT-LCD[J]. Acta Electronica Sinica, 1999, (6): 54-57. DOI：

摘要

分析了薄膜晶体管矩阵液晶显示器（TFT-LCD）的缺陷分类、成因，研制出了TFT-LCD短、断路缺陷检测和全板显示检测的测试板，系统介绍了各种缺陷的激光修补技术和TFT－LCD屏的冗余技术，作者在美期间开发出了利用减法激光修补仪进行加法修补的独特工艺．

Abstract

The defects classification and their forming processes of TFT-LCDs are analysed. Short tester.open tester and display tester are developed. The laser repair technique and redundant technique are described. An addition repair process using subtraction laser repair system is developed.

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