A Source Excitation Technique for the FDTD Analysis ofWaveguide and Microstrip Circuits

赵安平; 于荣金; 刘立杰

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A Source Excitation Technique for the FDTD Analysis ofWaveguide and Microstrip Circuits

更新时间：2025-12-08

- A Source Excitation Technique for the FDTD Analysis ofWaveguide and Microstrip Circuits
- Acta Electronica Sinica Issue 2, (1998)
- 作者机构：
  
  中国科学院长春物理研究所
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  CLC： TN702
- Published：1998
- 稿件说明：
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[1]赵安平,于荣金,刘立杰.一种用于时域有限差分分析波导和微带电路的源激励技术[J].电子学报,1998(02):57-64.

赵安平, 于荣金, 刘立杰. A Source Excitation Technique for the FDTD Analysis ofWaveguide and Microstrip Circuits[J]. Acta Electronica Sinica, 1998, (2).
[1]赵安平,于荣金,刘立杰.一种用于时域有限差分分析波导和微带电路的源激励技术[J].电子学报,1998(02):57-64. DOI：

赵安平, 于荣金, 刘立杰. A Source Excitation Technique for the FDTD Analysis ofWaveguide and Microstrip Circuits[J]. Acta Electronica Sinica, 1998, (2). DOI：

摘要

本文发展了一种对时域有限差分（ＦＤＴＤ）分析波导和微带电路简便有效的源激励法，并把它应用于各种微带电路，对于波导和微带不连续性问题，无需任何特殊处理，就可直接把吸收边界条件应用于端面；尤其对于微带电路，把Ｍｅｉ的简化场分布用作源面上的初始激励时，这种源激励法对源面及其附近不会引起源的任何失真。为演示这种技术的有效性和效率，给出了若干种不连续波导和微带结构的数值结果，并与解析解或常规的ＦＤＴＤ法得到的结果作了比较。

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