功能成品率估算的缺陷特征参数提取方法

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功能成品率估算的缺陷特征参数提取方法

论文 | 更新时间：2025-07-02

- 功能成品率估算的缺陷特征参数提取方法
- The Method of Defect Model Parameter Extraction for IC Functional Yield Estimation
- 电子学报 2000年28卷第8期页码：76-78
- 作者机构：
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  国家836高科技;国家科技攻关项目
- DOI：
  中图分类号：
- 稿件说明：
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功能成品率估算的缺陷特征参数提取方法[J]. 电子学报, 2000,28(8):76-78.

The Method of Defect Model Parameter Extraction for IC Functional Yield Estimation[J]. Acta Electronica Sinica, 2000, 28(8): 76-78.
功能成品率估算的缺陷特征参数提取方法[J]. 电子学报, 2000,28(8):76-78. DOI：

The Method of Defect Model Parameter Extraction for IC Functional Yield Estimation[J]. Acta Electronica Sinica, 2000, 28(8): 76-78. DOI：

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