基于重定时的高性能控制电路间接测试生成方法

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论文 | 更新时间：2025-07-02

- 基于重定时的高性能控制电路间接测试生成方法
- An Retiming-based Indirect Test Generation for Performance-Driven Control Logic
- 电子学报 2000年28卷第2期页码：83-86
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基于重定时的高性能控制电路间接测试生成方法[J]. 电子学报, 2000,28(2):83-86.

An Retiming-based Indirect Test Generation for Performance-Driven Control Logic[J]. Acta Electronica Sinica, 2000, 28(2): 83-86.
基于重定时的高性能控制电路间接测试生成方法[J]. 电子学报, 2000,28(2):83-86. DOI：

An Retiming-based Indirect Test Generation for Performance-Driven Control Logic[J]. Acta Electronica Sinica, 2000, 28(2): 83-86. DOI：

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