一种高稳定性频率源的低接近载波相位噪声的测量方法

您当前的位置：

首页 >

文章列表页 >

论文 | 更新时间：2025-07-02

- 一种高稳定性频率源的低接近载波相位噪声的测量方法
- A Measurement Method of Low Close-in Carrier Phase-Noise for the Frequency Synthesizer with High Stability
- 电子学报 2008年36卷第3期页码：594-598
- 作者机构：
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  教育部新世纪优秀人才支持计划项目 (No.NCET-06-0856)
- DOI：
  中图分类号：
- 稿件说明：
移动端阅览
一种高稳定性频率源的低接近载波相位噪声的测量方法[J]. 电子学报, 2008,36(3):594-598.

A Measurement Method of Low Close-in Carrier Phase-Noise for the Frequency Synthesizer with High Stability[J]. Acta Electronica Sinica, 2008, 36(3): 594-598.
一种高稳定性频率源的低接近载波相位噪声的测量方法[J]. 电子学报, 2008,36(3):594-598. DOI：

A Measurement Method of Low Close-in Carrier Phase-Noise for the Frequency Synthesizer with High Stability[J]. Acta Electronica Sinica, 2008, 36(3): 594-598. DOI：

浏览量

下载量

CSCD

文章被引用时，请邮件提醒。

提交

工具集

关联资源

暂无数据