基于安全控制边界单元的IP核测试封装方法

俞洋; 向刚; 乔立岩

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基于安全控制边界单元的IP核测试封装方法

学术论文 | 更新时间：2025-07-08

- 基于安全控制边界单元的IP核测试封装方法
- 暂无标题
- 电子学报 2011年第S1期页码：99-103
- 作者机构：
  
  哈尔滨工业大学自动化测试与控制系
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  装备预研重点基金 (No.9140A17040409HT01);航天支撑基金 (No.2009-HT-HGD-03)
- DOI：
  中图分类号： TN47
- 纸质出版：2011
- 稿件说明：
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俞洋, 向刚, 乔立岩. 基于安全控制边界单元的IP核测试封装方法[J]. 电子学报, 2011,(S1):99-103.
俞洋, 向刚, 乔立岩. 基于安全控制边界单元的IP核测试封装方法[J]. 电子学报, 2011,(S1):99-103. DOI：

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摘要

为了解决测试信息传递的问题

IEEE组织推出了IEEE1500 IP(Intellectual Property)核测试封装标准以标准化IP核测试接口.然而该标准给出的典型测试封装存在由测试数据扫描移入造成的不安全隐患.本文提出了一种基于安全控制边界单元的IP核测试封装方法.这种方法的核心思想是在典型的测试封装边界单元的基础上添加一个CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)传输门

有效消除了测试过程中扫描移位对被测IP核电路的影响.实验结果表明

这种基于安全控制边界单元的测试封装能够在完成测试任务的同时

有效降低IP核输入端口的测试数据数据跳变次数

使IP核处于安全状态

还可以降低扫描移位过程中产生的动态测试功耗.

Abstract

关键词

Keywords

references

乔立岩,向刚,俞洋,王帅.基于IEEE 1500标准的IP核测试壳设计[J].电子测量技术,2010(07).

Stefan Gerstendörfer,Hans-Joachim Wunderlich.Minimized power consumption for scan-based BIST[J].Journal of Electronic Testing: Theory and Applications: Theory and Applications,2000.

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