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利用场发射显微镜测算碳化钨薄膜的逸出功
利用场发射显微镜测算碳化钨薄膜的逸出功
Work Function of Tungsten Carbide Thin Film Calculated Using Field Emission Microscopy
- 电子学报 2002年30卷第5期 页码：655-657
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