您当前的位置:
首页 >
文章列表页 >
对异型硅岛实现的厚膜全耗尽SOIMOSFET的模拟研究
论文 | 更新时间:2025-07-16
    • 对异型硅岛实现的厚膜全耗尽SOIMOSFET的模拟研究

    • The Simulation Analysis of Thick Film Fully Depleted SOI MOSFET Implemented by Anti-Doped Silicon Island

    • 电子学报   2002年30卷第11期 页码:1605-1608
    • 中图分类号: TN305
    • 纸质出版:2002

    移动端阅览

  • 杨胜齐, 何 进, 黄 如, 等. 对异型硅岛实现的厚膜全耗尽SOIMOSFET的模拟研究[J]. 电子学报, 2002,30(11):1605-1608. DOI:

    YANG Sheng-qi, HE Jin, HUANG Ru, et al. The Simulation Analysis of Thick Film Fully Depleted SOI MOSFET Implemented by Anti-Doped Silicon Island[J]. Acta Electronica Sinica, 2002, 30(11): 1605-1608. DOI:

  •  
  •  
icon
试读结束,您可以激活您的VIP账号继续阅读。
去激活 >
icon
试读结束,您可以通过登录账户,到个人中心,购买VIP会员阅读全文。
已是VIP会员?
去登录 >

0

浏览量

1308

下载量

0

CSCD

文章被引用时,请邮件提醒。
提交
工具集
下载
参考文献导出
分享
收藏
添加至我的专辑

相关文章

HEMT的Kink效应和低频偏移效应解析模型

相关作者

张义门
吴拥军
张玉明

相关机构

西安电子科技大学微电子研究所
北京大学
西安交通大学
西安电子科技大学微电子研究所北京大学西安交通大学
0