高速信号眼图测试中夹具影响的校准

孙建伟; 张胜利; 王幼林; 谢 亮; 祝宁华

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高速信号眼图测试中夹具影响的校准

论文 | 更新时间：2025-07-16

- 高速信号眼图测试中夹具影响的校准
- Correction of the Fixture Effect on the High Speed Eye Diagram Measurement
- 电子学报 2004年32卷第9期页码：1563-1565
- 作者机构：
  
  中国科学院半导体研究所,北京,100083
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  国家"973" (No.G2000036601);国家杰出青年基金 (No.69825109)
- DOI：
  中图分类号： TN707
- 纸质出版：2004
- 稿件说明：
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孙建伟, 张胜利, 王幼林, 等. 高速信号眼图测试中夹具影响的校准[J]. 电子学报, 2004,32(9):1563-1565.

SUN Jian-wei, ZHANG Sheng-li, WANG You-lin, et al. Correction of the Fixture Effect on the High Speed Eye Diagram Measurement[J]. Acta Electronica Sinica, 2004, 32(9): 1563-1565.
孙建伟, 张胜利, 王幼林, 等. 高速信号眼图测试中夹具影响的校准[J]. 电子学报, 2004,32(9):1563-1565. DOI：

SUN Jian-wei, ZHANG Sheng-li, WANG You-lin, et al. Correction of the Fixture Effect on the High Speed Eye Diagram Measurement[J]. Acta Electronica Sinica, 2004, 32(9): 1563-1565. DOI：

摘要

为了在器件的高速信号眼图测试中去除夹具的影响

本文首次提出了一种利用时域和频域测量相结合

通过快速傅立叶变换和反变换

对眼图测试校准的方法

并进行了实验验证.实验发现校准后眼图的张开高度、Q因子、上升时间、下降时间、峰峰抖动等参数改变明显

并且校准后的眼图与直接测试结果符合得很好.

Abstract

To correct the fixture effect on the device used in high speed eye diagram measurement at high bit rates above Gb/s

a correction method based on time domain measurement

frequency domain measurement and fast Fourier transforms has been proposed.Under the guidance of the proposed method

experiments were designed and performed.It is found that the corrected eye diagram fits the directly measured eye diagram very well and the corrected parameters

such as eye height

Q factor

rise time

fall time and peak-to-peak jitter

are very different from the uncorrected parameters.

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