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基于K参数思想的快速三维互连电感电阻提取算法
论文 | 更新时间:2025-07-16
    • 基于K参数思想的快速三维互连电感电阻提取算法

    • Fast Inductance and Resistance Extraction of 3-D VLSI Interconnects Based on the Method of K Element

    • 电子学报   2005年33卷第8期 页码:1365-1369
    • 中图分类号: TN47
    • 纸质出版:2005

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  • 魏洪川, 喻文健, 杨柳, 等. 基于K参数思想的快速三维互连电感电阻提取算法[J]. 电子学报, 2005,33(8):1365-1369. DOI:

    WEI Hong-chuan, YU Wen-jian, YANG Liu, et al. Fast Inductance and Resistance Extraction of 3-D VLSI Interconnects Based on the Method of K Element[J]. Acta Electronica Sinica, 2005, 33(8): 1365-1369. DOI:

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