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对表面势为基础的MOSFET片电荷模型的基本检验
对表面势为基础的MOSFET片电荷模型的基本检验
Benchmark Tests on Surface Potential Based Charge-Sheet Models
- 电子学报 2006年34卷第11期 页码：1986-1989
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相关作者
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周求湛
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相关机构
吉林大学通信工程学院测控及通信仪器系
