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基于变游程编码的测试数据压缩算法
论文 | 更新时间:2025-07-16
    • 基于变游程编码的测试数据压缩算法

    • A Test Set Compression Algorithm Based on Variable-Run-Length Code

    • 电子学报   2007年35卷第2期 页码:197-201
    • 中图分类号: TP391.76
    • 纸质出版:2007

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  • 彭喜元, 俞 洋. 基于变游程编码的测试数据压缩算法[J]. 电子学报, 2007,35(2):197-201. DOI:

    PENG Xi-yuan, YU Yang. A Test Set Compression Algorithm Based on Variable-Run-Length Code[J]. Acta Electronica Sinica, 2007, 35(2): 197-201. DOI:

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