电荷耦合器件电离辐射损伤的模拟试验研究

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电荷耦合器件电离辐射损伤的模拟试验研究

科研通信 | 更新时间：2025-07-08

- 电荷耦合器件电离辐射损伤的模拟试验研究
- Cobalt-60 Experiment on Ionization Radiation Effects of Charge Coupled Devices
- 电子学报 2010年38卷第5期页码：1192-1195
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唐本奇, 王祖军, 刘敏波, 等. 电荷耦合器件电离辐射损伤的模拟试验研究[J]. 电子学报, 2010,38(5):1192-1195.

Cobalt-60 Experiment on Ionization Radiation Effects of Charge Coupled Devices[J]. Acta Electronica Sinica, 2010, 38(5): 1192-1195.
唐本奇, 王祖军, 刘敏波, 等. 电荷耦合器件电离辐射损伤的模拟试验研究[J]. 电子学报, 2010,38(5):1192-1195. DOI：

Cobalt-60 Experiment on Ionization Radiation Effects of Charge Coupled Devices[J]. Acta Electronica Sinica, 2010, 38(5): 1192-1195. DOI：

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