您当前的位置:
首页 >
文章列表页 >
基于紧缩阈值加速退化试验的长寿命产品可靠性评估
学术论文 | 更新时间:2025-07-16
    • 基于紧缩阈值加速退化试验的长寿命产品可靠性评估

    • Reliability Assessment for Long-Life Products Based on ADT with Tightened Critical Values

    • 电子学报   2011年39卷第6期 页码:1253-1256
    • 中图分类号: TP114
    • 纸质出版:2011

    移动端阅览

  • 冯静. 基于紧缩阈值加速退化试验的长寿命产品可靠性评估[J]. 电子学报, 2011,39(6):1253-1256. DOI:

    FENG Jing. Reliability Assessment for Long-Life Products Based on ADT with Tightened Critical Values[J]. Acta Electronica Sinica, 2011, 39(6): 1253-1256. DOI:

  •  
  •  
icon
试读结束,您可以激活您的VIP账号继续阅读。
去激活 >
icon
试读结束,您可以通过登录账户,到个人中心,购买VIP会员阅读全文。
已是VIP会员?
去登录 >

0

浏览量

1054

下载量

2

CSCD

文章被引用时,请邮件提醒。
提交
工具集
下载
参考文献导出
分享
收藏
添加至我的专辑

相关文章

基于景深约束的单幅雾天图像去雾算法
不确定退化测量数据下的剩余寿命估计
考虑不完全维护影响的随机退化设备剩余寿命预测

相关作者

南栋
毕笃彦
马时平
何林远
娄小龙
司小胜
胡昌华
张琪

相关机构

空军工程大学航空航天工程学院
第二炮兵工程大学控制工程系302教研室
火箭军工程大学控制工程系
火箭军驻307 厂军事代表室
0